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Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Gaither
Format: Électronique Livre
Langue:English
Publié: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Sujets:
Conference papers and proceedings.
Accès en ligne:Full text available on Research4Life (ACM)
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