Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Ramesham, Rajeshuni
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: SPIE Digital Library, 10/2/01
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Φυσική περιγραφή:1 online resource
Μορφή:Mode of access: Internet
ISBN:9780819442864
Πρόσβαση:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students