Interferometry for Precision Measurement

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Langenbeck, Peter
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:English
Argitaratua: SPIE, 2014
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access
Search Result 1
nork Langenbeck, Peter
On-Campus Access Only (IP based access)
Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Baliabide elektronikoa Liburua