Optical and EUV Lithography: A Modeling Perspective

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Erdmann, Andreas
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:English
Publicado em: SPIE, 2021
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on SPIE Digital Library
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Descrição
Descrição do item:<strong>Off-Campus Access:</strong> Athens ID and Password Required
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Descrição Física:1 online resource
Formato:Mode of access: Internet
ISBN:9781510639010
9781510639027
DOI:10.1117/3.2576902
Acesso:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students