Computed Tomography: Principals, Design, Artifacts, & Recent Advances, 2nd Ed.

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Hsieh, Jiang
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: SPIE, 2009
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access

פריטים דומים