Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Springer New York,
2013
|
| Vydání: | 1 |
| Témata: | |
| On-line přístup: | Full text available on Springer Off-campus access |