2020 CSI/CPSSI International Symposium on Real-Time and Embedded Systems and Technologies (RTEST)

Մատենագիտական մանրամասներ
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: IEEE
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Նմանատիպ նյութեր