Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Gaither
Formaat: Elektronisch Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Gelijkaardige items