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Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Gaither
Format: Elektronisch Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Schlagworte:
Conference papers and proceedings.
Online Zugang:Full text available on Research4Life (ACM)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
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