Tests, Measurements, and Characterization of Electro-Optic Devices and Systems

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Wadekar, Shekhar
Formatua: Baliabide elektronikoa Liburua
Hizkuntza:English
Argitaratua: SPIE Digital Library, 1/23/90
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Antzeko izenburuak