8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics
| Tác giả khác: | |
|---|---|
| Định dạng: | Điện tử Sách |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
SPIE Digital Library,
1/1/16
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |