Automated Visual Inspection and Machine Vision V

Бібліографічні деталі
Інші автори: Beyerer, Jürgen, Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB
Формат: Електронний ресурс Книга
Мова:English
Опубліковано: SPIE Digital Library, 1/1/69
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Схожі ресурси