Automated Visual Inspection and Machine Vision III
| Другие авторы: | Beyerer, Jürgen |
|---|---|
| Формат: | Электронный ресурс |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
SPIE Digital Library,
10/4/19
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |