Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV

Бібліографічні деталі
Інші автори: Han, Sen
Формат: Електронний ресурс Книга
Мова:English
Опубліковано: SPIE Digital Library, 11/24/16
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Опис
Опис примірника:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Фізичний опис:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9781510604650
9781510604667
Доступ:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students