Interferometry for Precision Measurement

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Langenbeck, Peter
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: SPIE Digital Library, 1/1/14
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Παρόμοια τεκμήρια