Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Lehmann, Peter
Formato: Recurso Eletrônico Livro
Idioma:English
Publicado em: SPIE Digital Library, 4/9/13
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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