Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Postek, Michael
פורמט: אלקטרוני ספר
שפה:English
יצא לאור: SPIE Digital Library, 6/9/11
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

פריטים דומים