Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Chugui, Yuri
Format: Elektroniczne Książka
Język:English
Wydane: SPIE Digital Library, 7/29/02
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue