Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Ramesham, Rajeshuni
Format: Elektronisch Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: SPIE Digital Library, 1/16/03
Schlagworte:
Online Zugang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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