Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Meyendorf, Norbert
Formato: Recurso Electrónico Livro
Idioma:English
Publicado em: SPIE Digital Library, 7/22/03
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
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