Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics

Podrobná bibliografie
Další autoři: Assoufid, Lahsen
Médium: Elektronický zdroj Kniha
Jazyk:English
Vydáno: SPIE Digital Library, 1/1/05
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Popis
Popis jednotky:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Fyzický popis:1 online resource
Médium:Mode of access: Internet
ISBN:9780819459268
Přístup:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students