Computed Tomography: Principals, Design, Artifacts, & Recent Advances, 2nd Ed.

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Hsieh, Jiang
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: SPIE, 2009
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on SPIE Digital Library
Off-campus access
תיאור
תאור פריט:<strong>Off-Campus Access:</strong> Athens ID and Password Required
<strong>On-Campus Access:</strong> No User ID or Password Required
תיאור פיזי:1 online resource
פורמט:Mode of access: Internet
ISBN:9780819475336
9780819480422
DOI:10.1117/3.817303
גישה:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students